Odborně-vzdělávací a zpravodajský portál z oblasti strojírenství a navazujících oborů
Články >> Konfokální chromatické snímače
Chcete dostávat MM Průmyslové spektrum ZDARMA až do Vaší schránky? Více informací zde.

Konfokální chromatické snímače

Širokou paletu snímačů a řídicích jednotek od společnosti Micro-Epsilon lze díky dostupným rozhraním použít v celé řadě odvětví, jako např. ve výrobě polovodičů, skla, zdravotnické techniky, plastů a spotřební elektroniky. Konfokální snímače nabízejí spojení moderních technologií, vysoké rychlosti a maximální přesnosti. Díky svým přednostem tyto všestranné snímače polohy a vzdálenosti splňují vysoké nároky průmyslu 4.0.

Specialista na výrobu obalového skla

Princip konfokálního chromatického měření umožňuje přesné jednostranné měření tloušťky transparentních materiálů, jako např. skla, fólií, plastů s vysokou přesností. Řídicí jednotka umožňuje ukládat druhy materiálů do své paměti, kterou uživatel může podle svých potřeb později editovat. Funkce pro kalibraci tloušťky umožňuje její konstantní měření napříč celým měřicím rozsahem. Například při výrobě obalového skla jsou klíčovými parametry tloušťka stěn a kulatost lahví. Tyto parametry tudíž vyžadují 100% kontrolu. Veškeré vadné obaly jsou okamžitě vyřazeny a roztaveny pro další použití. Vysoké rychlosti zpracování společně s nutností předejít poškození lahví vyžadují rychlý a bezkontaktní způsob měření. K tomuto úkolu se dokonale hodí konfokální chromatický dvoukanálový systém confocalDT 2422 od společnosti Micro-Epsilon, který provádí synchronní měření na dvou bodech. Výstup dat probíhá v reálném čase prostřednictvím rozhraní EtherCAT. 


Konfokální chromatický dvoukanálový systém confocalDT 2422 měří tloušťku stěn a kulatost lahví při výrobě obalového skla. (Zdroj: Micro-Epsilon)

Měření vzduchových mezer

Laminované sklo, solární články, ploché obrazovky a displeje chytrých telefonů – všechny tyto produkty představují pro měřicí techniku obrovskou výzvu, protože se skládají z několika vrstev a různých transparentních materiálů. Pro zajištění vysoké kvality je nutné určit přesnou tloušťku každé vrstvy a vzduchové mezery mezi jednotlivými vrstvami. Vzhledem ke značné rychlosti výroby je nezbytné měření provádět rychle a přesně. Po montáži výrobku, např. mobilního telefonu, je důležité kvůli zajištění kvality všech výrobních šarží ověřit, jestli komponenty splňují povolené montážní odchylky. Stěžejními faktory v elektronickém průmyslu jsou miniaturizace, rostoucí rychlost výroby a důraz na stále vyšší efektivitu. Kvalita, funkčnost a ovládání pomocí dotykového displeje se neobejdou bez spolehlivého měření a důsledných kontrol v každé výrobní fázi. Při výrobě vícevrstvého, laminovaného nebo zakřiveného skla pro letadla, automobily a budovy hraje důležitou roli přesné měření tloušťky každé vrstvy. A právě k tomuto úkolu se dokonale hodí konfokální snímače. Pokud zakřivení sousedních vrstev neodpovídá specifikacím, hrozí zvýšená zátěž materiálu, která by mohla vést ke kvalitativním nedostatkům nebo delaminaci skla. Kompaktní, vysoce rychlé a snadno integrované snímače jsou zárukou maximální spolehlivosti v téměř každé oblasti, ve které je kladen důraz na vysokou přesnost, od monitoringu strojních zařízení až po plně automatickou kontrolu kvality hotového produktu. 


Lze s nimi měřit i např. tloušťku vzduchových mezer či vícevrstvých transparentních materiálů...

Vyhodnocení intenzity nejdrobnějších povrchových struktur

Konfokální chromatické měřicí systémy slouží k měření polohy a vzdálenosti a také k vyhodnocení intenzity. Touto metodou lze povrchové vlastnosti i těch nejdrobnějších komponentů určit s přesností na mikrometr a mimo jiné velmi spolehlivě odhalit například škrábance. Na základě určení vzdálenosti lze provádět povrchovou topografii předmětů. Uplatnění obou metod v praxi je specialitou společnosti Micro-Epsilon. Konfokálními chromatickými snímači lze měřit také průměr, kulatost, povrchovou strukturu a hrubost vložek válců. Pokud se měřený předmět skládá z různých materiálů, jako např. z kovu a plastu, lze změnu materiálu i při stejné vzdálenosti odhalit na základě odrazivosti. Míru odrazivosti ovlivňují nerovnosti a škrábance na povrchu. Systém detekuje změny intenzity signálu a produkuje přesný obraz měřeného předmětu a jeho drobných struktur.


… a také průměr, kulatost, povrchovou strukturu nebo hrubost vložek válců. (Zdroj: Micro-Epsilon)

Martin Tupý

www: www.micro-epsilon.cz

Další články

Měření ve strojírenství
Automatizace, regulace
Metrologie/ kontrola jakosti

Komentáře

Nebyly nalezeny žádné příspěvky

Sledujte nás na sociálních sítích: