Tento přístroj je připraven provádět analýzu mikrostruktury povrchu s dříve nedosažitelnou rozlišitelností v mimořádně stabilních podmínkách měření. V konstrukci přístroje použité kompozitní materiály včetně skelné keramiky zajišťují vysokou tepelnou stabilitu celého systému. Měřicí jednotka Nanostep 3000, ve spojení s pneumatickým antivibračním uložením základové desky a ochranným krytem, v maximální míře redukuje rušivé vnější vlivy na proces měření.
Konstrukce snímacího mechanismu dovoluje seřizovat velikost přítlačné síly snímače v rozmezí 10 až 700 µN. Přístroj je tak připraven pro měření velmi jemně dokončených povrchů, s rozlišením 30 pm při vertikálním rozsahu měření 2 µm, nebo lze analyzovat výškové stupně do velikosti 20 µm, s rozlišením 300 pm. Volitelná rychlost měření, s minimální hodnotou 0,0025 mm.s-1, je doplněna dvěma rychloposuvy pro seřizování. Ustavení součásti pro měření je jednoduché a rychlé, s využitím mechanismu pro zvedání a spouštění snímacího hrotu, který zajišťuje automatické zvednutí hrotu do polohy mimo povrch v době, kdy se neprovádí měření. Při přípravě měření je využíván světelný kabel spolu s videomikroskopem, což velmi zjednodušuje nastavení vzájemné polohy snímacího hrotu a kontrolovaného povrchu. Měřicí stolek s upnutým vzorkem lze naklápět. Pod snímacím hrotem, který má neměnnou polohu, je možné součást na stolku stranově posunovat v ose Y až o délku 50 mm.
Analýzy měření Nanostepu zajišťují snadno ovladatelné a názorné programy. Výsledkem analýzy je vyhodnocení více než 100 normalizovaných a nenormalizovaných parametrů charakterizujících povrch, které jsou uspořádány podle typů a ISO standardů v přehledné nabídkové tabulce. K dispozici jsou zde parametry nefiltrovaného profilu, drsnosti a vlnitosti (v každé skupině výškové, délkové a tvarové podle ISO 4287, celkem 102 parametrů), parametry hodnotící úchylky přímosti (ISO 12780), parametry křivky lineárního poměru materiálu (ISO 13565) a parametry metody motif pro profily drsnosti a vlnitosti (ISO 12085). Vybrané parametry hodnocení, stejně i další kritéria analýzy, lze ukládat ve formě vzorových šablon, které jsou tak připraveny pro opakované využití. Přístroj umožňuje v rámci měřicího rozsahu provádět automatická výšková měření na profilu. Nanostep je připraven vypočítávat souřadnice polohy na osách X a Z, což umožní určovat lineární polohy částí povrchu.
Praktické zkušenosti ukazují, že Nanostep 3000 se především uplatní při kontrole jemně dokončených povrchů ve výzkumných a kalibračních laboratořích, ale i v přesné specializované výrobě, např. při kontrole povrchů dokončovaných soustružením nebo broušením diamantovými nástroji, měření funkčních povrchů kalibračních etalonů, povrchových vad jemných povrchů, dále při kontrole přesné optiky, laserových gyroskopických zrcadel, magnetických pásků, zrcadel rentgenových systémů, přesných součástí výpočetní techniky, integrovaných obvodů a velmi přesných ložisek.
Přehled technických parametrů měřicích přístrojů Taylor Hobson