Témata

Výroba a technologie

Postupný vývoj nových technologií ovlivňuje vznik a dostupnost profesí a způsobu práce, nových podnikových organizačních struktur, byznys modelů a v neposlední řadě díky novým technologiím dochází k prolnutí různých průmyslových odvětví a sektorů.

Optimalizace kvality a množství při válcování za studena

23. 04. 2003

Požadavky na zvyšování přesnosti, kvality a vyráběného množství při válcování za studena směřují k optimalizaci strojů a výrobních prostředků. Dříve se pro tyto účely používaly především přístroje na měření tloušťky spojené s automatickou regulací nastavení. Moderní regulace by ovšem měla zahrnovat všechny parametry válcování. Německá firma Vollmer, kterou v ČR zastupuje společnost SK Technik, spol. s r. o., nabízí postup optimalizce regulace válcovacího procesu, který zahrnuje

Technologické lasery v Chicagu a v Hannoveru

12. 03. 2003

Podzim loňského roku byl ve znamení dvou velkých technologických veletrhů - IMTS v Chicagu a EuroBLECH v Hannoveru. Zatímco první svým načasováním na první výročí zářijových událostí v USA utrpěl, druhý zaznamenal po nevalném roce 2000 velký úspěch s hvězdami, k nimž patřily i lasery

Termální vrtání - progresivní metoda tváření otvorů

11. 12. 2002

Vrták Flowdrill z karbidu wolframu generuje při tváření otvorů třecí teplo, které lokálně ohřívá materiál, což nástroji umožňuje plynulý průchod obrobkem a formování pouzdra z přemísťovaného materiálu

Kvalitní výroba ve studených válcovnách

11. 12. 2002

Vyžadovaná tolerance hotového vyválcovaného pásu se v současnosti pohybuje již na úrovni ? 5 µm. Spolehlivé dodržování zadaných tolerancí je nezbytností, ať už se jedná o ocel, měď nebo hliník

IMTS 2002 v Chicagu - rok poté

13. 11. 2002
Roman Dvořák

Jestliže oficiální zpráva ze strojírenského veletrhu IMTS 2002, konaného v Chicagu letos ve dnech 4. až 11. září, tedy rok po událostech z 11. září 2001 v New Yorku, hovoří o jeho perfektním načasování, skutečnost je poněkud jiná.

Měříte správně strukturu povrchu?

13. 11. 2002

Závěrečná část našeho dvoudílného seriálu o měření struktury povrchu se zabývá způsoby stanovení základní a mezní vlnové délky, které slouží k rozlišení nerovností, jež charakterizují vyhodnocovaný profil