Pro porovnání jednotlivých povrchů a komplexnější hodnocení (obr. 7 a 8) byla provedena srovnatelná měření na obou válcových površích. Z naměřených hodnot je patrný jejich vzájemný rozdíl, který ukazuje potenciál pro případné zlepšení jakosti zkoumaného broušeného povrchu. Z měření plošné drsnosti je patrno, že šířka pásu rýh pod jádrem drsnosti (Svk – analogie Rvk) je až 10x větší u zkoumaného broušeného povrchu, než je tomu u referenčního povrchu. Dále šířka samotného jádra je až 4x menší než Svk, což znamená, že vady povrchu patrné na obr. 8 rozšiřují toto pásmo Svk.
U referenčního povrchu je tomu naopak. Pásmo Svk je zde dokonce 2x menší než šířka samotného jádra Sk. Tento fakt potvrzuje i zkoumání maximálních hloubek defektů na referenčním povrchu, které zde byly naměřeny do 5 μm, zatímco v případě zkoumaného broušeného povrchu se hloubky defektů blížily až ke 30 μm. Z tohoto vyplývá několikanásobně lepší jakost a homogenita referenčního povrchu. Podobně by bylo možné najít další rozdíly v dalších parametrech plošné drsnosti.